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HB 8696-2023
航空零部件射线检测用像质计
Image quality indicators (IQI)used for radiographic
testing of aeronautical parts
2023-12-29 发布 2024-07-01 实施
中华人民共和国工业和信息化部 发 布
前 言
本文件按 GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第 1 部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件由中国航空综合技术研究所归口。
本文件起草单位:中国航发北京航空材料研究院、中国航发动力股份有限公司。
本文件主要起草人:王倩妮、陈子木、郭乃鹏、马海全、徐可北、张建合。
航空零部件射线检测用像质计
1 范围
本文件规定了航空零部件射线检测用线型和孔型像质计的常用材料、像质计样式、像质计选用及质量要求。
本文件适用于航空零部件射线检测用线型和孔型像质计。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 699 优质碳素结构钢
GB/T 12604.2 无损检测 术语 射线照相检测
3 术语和定义
GB/T 12604.2 界定的术语和定义适用于本文件。
4 像质计常用材料
常用像质计材料、材料要求、应用范围及材料标识见表 1。其他材料的像质计, 其化学成分由合同各方约定。
表 1 常用像质计材料、材料要求、应用范围及材料标识
5 像质计样式
5.1 线型像质计
5.1.1 常规线型像质计
5.1.1.1 常规线型像质计样式见图 1。
单位:mm
a ——标识区;l ——线长;s ——线间距
图 1 线型像质计样式
5.1.1.2 线型像质计由不同直径的金属线组成,金属线编号、标称直径及允许公差、线中心间距见表2。
表 2 金属线线号、直径及允许偏差
单位:mm
5.1.1.3 金属线序列分为 4 组,每组由 7 根线号连续的金属线组成,各组之间部分线径重叠,具体分组见表 3。
表 3 金属线组别标识
5.1.1.4 每个线型像质计金属线材料相同,平行固定排列在弱吸收材料制作的包壳中。
5.1.1.5 线型像质计标识应由铅或与之密度相当的材料制成,由本标准号、组别标识、材料标识或材料密度值组成。常用材料像质计标识如图 2 所示。非常用材料像质计使用金属线密度值替代材料标识,密度值取小数点后两位,如金属线材料密度为 8.20g/cm3,像质计标识如图 3 所示。
图 2 常用材料像质计标识
图 3 非常用材料像质计标识
5.1.1.6 像质计中的 7 根金属线按线径从大到小平行排列,线径最大的金属线在标识中的“W ”一侧。金属线长度 l 为 10mm、25mm 或 50mm。
5.1.2 专用线型像质计
为检测小直径管对接焊缝而设计四种专用型像质计,即 Z1、Z2、Z3 和Z4 型,分别由五根、三根、两根和一根直径相同的金属线按 5.1. 1 要求制造,其线径和偏差应符合表 2 的规定。像质计标识由本标准号、型号、线号、材料标识或材料密度值组成,如图 4 所示。
图 4 专用型像质计标识
5.2 孔型像质计
5.2.1 像质计样式
孔型像质计的样式有两种,标识号为 1~160 的孔型像质计为矩形,标识号大于 160 的像质计为圆形,如图 5 所示。像质计标识号表示像质计厚度为 0.0254mm (0.001in.)的倍数。像质计的结构尺寸与公差见表 3。
a) 标识号 1~160 的孔型像质计
b) 标识号大于 160 的孔型像质计孔应为正圆且垂直于像质计平面,不应斜切。
注 1:标识号 XX 表示像质计厚度为 0.0254mm (0.001in.)的倍数。
注 2:标识号 1-9 孔型像质计孔径不是 1T、2T、4T。
注 3:a)中标识号由铅或与之密度相当的材料制成。
图 5 孔型像质计结构
表 4 孔型像质计结构尺寸及公差
5.2.2 孔型像质计的标识
5.2.2.1 常用材料、样式为矩形(标识号不大于 160)的孔型像质计利用边缘锯齿标记材料种类,见表 5,并在像质计平板使用蚀刻方法标记材料及标准号。
5.2.2.2 非常用材料、样式为矩形(标识号不大于160)的孔型像质计使用机械加工或蚀刻的方法在像质计上标记材料密度及标准号。
5.2.2.3 样式为圆形(标识号大于 160)的孔型像质计使用机械加工或蚀刻的方法在像质计上标记材料种类或密度、标准号及标识号。射线透照时应在像质计旁放置铅字以标识像质计材料与标识号。
表 5 常用材料孔型像质计样式(标识号不大于 160)
6 像质计选用
6.1 应优先选用材料与被检件相同的像质计。
6.2 若无法获得与被检件材料相同的像质计,可选用与被检件材料具有射线吸收相似性的材料制成的像质计。射线吸收相似性可通过以下方法验证:由待检件材料和像质计材料制成两个相同厚度的试块,在同一个胶片上以生产中所用的最低能量同时曝光,底片黑度为 2.0~4.0,若像质计材料的底片密度与待检材料底片密度之间差异在 0~+15%范围内,则认为两种材料具有射线吸收相似性。
6.3 低密度材料的像质计可用于高密度材料的射线照相(如铁像质计可用于镍基材料)。
6.4 射线检测时,像质计规格的选择、应识别的线径或孔径应满足检测标准或客户文件的要求。
7 质量要求
7.1 像质计成品应平整、光滑、边缘无毛刺,外观良好。
7.2 每个像质计上应有唯一出厂编号和合格证,合格证内容应包含用于制作像质计的材料密度和实测尺寸数据。