T/CVIA 145-2024 Micro LED显示屏质量视觉测试方法

　　团 体 标 准

　　T/CVIA 145—2024

　　Micro LED 显示屏质量视觉测试方法

　　Visual inspection methods of screen quality for micro light emitting diode(Micro

　　LED) display

　　2024 - 10 - 16 发布 2024 - 10 - 16 实施

　　中国电子视像行业协会 发 布

　　前 言

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

　　请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

　　本文件由中国电子视像行业协会提出并归口。

　　本文件起草单位：天马新型显示技术研究院(厦门)有限公司、成都辰显光电有限公司、上海天马微电子有限公司、天马微电子股份有限公司、TCL华星光电技术有限公司、厦门天马微电子有限公司、厦门大学、利亚德光电股份有限公司、深圳创维-RGB电子有限公司、武汉精测电子集团股份有限公司、西安诺瓦星云科技股份有限公司、京东方科技集团股份有限公司、海信视像科技股份有限公司、卡莱特云科技股份有限公司、深圳市壹倍科技有限公司、深圳市晶台股份有限公司。

　　本文件主要起草人：安菲菲、彭旭辉、李鑫、郝亚斌、冯晓曦、彭健锋、吴天一、任程、王晓玲、霍思涛、曹轩、夏继业、郭伟杰、冯艳丽、黄学润、白建军、刘莉、沈思宽、胡向峰、王雷、刘昕、杨城、顿胜堡、高兆峰、任丽美、樊心仪、孔一帆、王俊杰、严春伟、张利利、朱余良、汤丽丽。

　　Micro LED 显示屏质量视觉测试方法

　　1 范围

　　本文件描述了用人眼对Micro LED显示屏的质量进行判定的测试条件和测试方法。

　　本文件适用于手机、手表、车载、电视等应用 (视距在10厘米至10米之间)的Micro LED显示屏的目视可判别缺陷检测工作。其他应用场景可根据情况参考使用。

　　2 规范性引用文件

　　本文件没有规范性引用文件。

　　3 术语和定义

　　下列术语和定义适用于本文件。

　　3. 1

　　Micro LED显示屏 micro light emitting diode screen;Micro LED screen

　　采用长边小于100微米，短边小于50微米且不含衬底的Micro LED芯片实现信息显示的屏幕。

　　3.2

　　目视检查 visual inspection

　　利用人眼观察测试样品，并与标准样品比较进行缺陷检查的方法。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.1]

　　3. 3

　　缺陷 defect

　　任何出现在有效显示区域内的可观察到的异常现象。

　　[来源：GB/T 18910.203—2021，定义3.2]

　　3. 4

　　子像素缺陷 subpixel defects

　　单个子像素 (最小颜色单元)的全部或部分的亮度比周围同色子像素的亮度明显更亮或更暗。对子像素缺陷的分类，取决于显示区域内多个子像素缺陷的数目和构成。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.2]

　　3. 5

　　亮子像素缺陷 bright subpixel defect

　　当由均匀暗背景或灰背景信号驱动时，比周围同色子像素明显更亮的子像素。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.4，有修改]

　　3. 6

　　暗子像素缺陷 dark subpixel defect

　　当由均匀亮场信号驱动时 (例如大于最高全屏亮度的50%)，比周围同色子像素明显更暗的子像素。 [来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.5，有修改]

　　3. 7

　　不稳定子像素 unstable subpixel

　　亮度以不可控的方式变化的子像素。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.8，有修改]

　　3. 8

　　子像素簇缺陷 clustered subpixel defects

　　聚集在特定区域或在特定距离内的子像素。也可称为“密子像素缺陷”。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.7，有修改]

　　3. 9

　　线缺陷 line defect

　　在暗或亮环境中，由相邻的子像素缺陷连成一线形成的平行于行或列的水平或竖直的亮或暗线。注：线缺陷明显穿过部分或整个图像，并导致短路或断开。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.11，有修改]

　　3. 10

　　亮线缺陷 bright line defect

　　当显示暗态图像时，出现在屏幕上的亮线。

　　[来源：GB/T 18910.203—2021，定义3.2.7]

　　3. 11

　　暗线缺陷 dark line defect

　　当显示亮态图像时，出现在屏幕上的暗线。

　　[来源：GB/T 18910.203—2021，定义3.2.8]

　　3. 12

　　交叉线缺陷 crossing lines defect

　　由平行于行和列的线缺陷相交形成的缺陷。

　　3. 13

　　云纹 mura

　　通常比子像素缺陷的变化更平缓、比子像素面积更大的亮度或颜色不均匀的区域。

　　3. 14

　　区块云纹 shot mura

　　相邻转移键合区域边缘亮度和色度差异导致的显示不均匀。云纹发生位置、形状、尺寸与转移键合区域相关联。

　　3. 15

　　异物 foreign material

　　由对比增强膜、保护膜之间，或显示器件有效区域内出光面之间的灰尘或线状物等外部物质引起的缺陷。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.22]

　　3. 16

　　气泡 bubble

　　由密封材料、粘合剂、对比增强膜、保护膜，或在可见显示区域内的其他薄膜之间的空隙引起的缺陷。

　　[来源：SJ/T 11461.6.2—2016，定义3.1.23]

　　3. 17

　　墨色一致性 dark color uniformity

　　Micro LED显示屏发光面所有结构材料的颜色一致程度。

　　[来源：T/CVIA 116—2023，定义3.6]

　　3. 18

　　重缺陷 major defect

　　能引起失效或显著降低产品预期性能的缺陷。

　　3. 19

　　轻缺陷 minor defect

　　不会显著降低产品的预期性能的缺陷。

　　4 视觉缺陷分类

　　尽管自动视觉检查设备已逐渐得到应用，但目前各类型缺陷与人体生理响应相对应的量化系统还未完善，目视检查仍保留在视觉缺陷等级和分类的大部分常规系统中，为了便于交流失效模式和设置指标，有必要为Micro LED显示屏视觉缺陷规定一个标准的分类方案和测试方法。

　　从缺陷的产生来源，可以分为光电缺陷和外观缺陷。光电缺陷通常涉及色度或亮度的异常。外观缺陷通常是生产过程中的损伤和污染引起的。

　　从对产品预期性能的影响，可以分为重缺陷和轻缺陷。重缺陷指能引起失效或显著降低产品预期性能的缺陷。轻缺陷指不会显著降低产品的预期性能的缺陷

　　图1是视觉缺陷的一种分类方案。

　　图1 视觉缺陷的分类

　　5 测试装置

　　测试装置的系统框图和/或测试条件应满足每个测试项目的要求。

　　6 检查条件

　　6. 1 环境条件

　　视觉检查应在测试温度为25 ℃±3 ℃, 相对湿度为55%±10%，气压为86kPa～106kPa的标准环境条件下进行。若使用不同的环境条件，应在视觉检查测试报告中注明。

　　6.2 照明条件

　　6.2.1 光电缺陷检查照明条件

　　亮室照明条件对目视检查者分辨缺陷的能力有较大影响，而目视场内光强的剧烈变化可能导致检查者的视觉疲劳，以致对缺陷敏感性的降低或丧失。目视检查者在开始检测的10 min前先适应照明条件。

　　为了保证检测条件的一致性，目视检查工作区域的平均环境照度应为100 lx±50 lx。

　　在检查环境中应注意使用漫射照明和漫射纹理以避免检查者的视野内出现炫光。如图2所示，将待测显示屏放置在避免室内光源直接照射的位置。同时使用黑色吸光材料盖住可能被检查者在显示屏表面直接反射看到的镜面。总之，限制由环境光导致的显示对比度降低，从室内光源照射至显示屏表面的环境照度应小于20 1x。如果显示屏表面的环境照度大于20 lx，应在目视检查报告中注明。

　　所述环境照度可测得，例如用照度计在目视检查者眼睛所在的水平面朝上检查。

　　标引序号说明：

　　1——无直射光源;

　　2——漫射光源;

　　3——挡板或遮光罩;

　　4——墙壁或其他物体立面;

　　5——目视检查者眼睛;

　　6——显示屏。

　　图2 目视检查室照明及反射控制示例

　　6.2.2 外观缺陷检查照明条件

　　外观检查工作区域的平均环境照度应为700 lx ± 100 lx 。

　　6.3 目视检查条件

　　6.3.1 视力条件

　　目视检查者应具备不小于1.0的矫正视力和正常色觉。

　　6.3.2 检视距离

　　目视检查者眼睛与显示屏之间的距离：35 cm ±5 cm 。

　　6.3.3 检视角度

　　目视检查检视角度(见图3)：θ U/ θD：45 °/45°;θL/ θR： 45 °/45°。

　　标引序号说明：

　　θU——上侧检视角度，单位为度;

　　θD——下侧检视角度，单位为度;

　　θL——左侧检视角度，单位为度;

　　θR——右侧检视角度，单位为度。

　　图3 视觉检查检视角度示意图

　　7 目视检查方法和判据

　　7. 1 光电缺陷

　　7.1.1 光电缺陷的检测方法

　　光电缺陷的检测方法如下：

　　a) 将被测显示屏安装测试台，打开直流电源和信号源。将驱动电流和图案提供至缺陷检测规定的 Micro LED 显示屏。驱动电压的值应按照被测 Micro LED 显示屏规格书中的规定;缺陷尺寸可借助点线规卡尺判定;

　　b) 全屏黑色测试图案(0%度等级，开启状态的显示屏)适用于检测亮点缺陷;

　　c) 在 10%～30%灰度等级的全屏测试图案检测不均缺陷。除另有规定外，应使用 10%灰度等级。亮度等级应在报告中注明。所观察的缺陷应与限度样品进行比较;

　　d) 全屏白色测试图案(100%灰度等级)适用于检测暗子像素缺陷。红绿蓝彩色通道的测试图案可应用于识别和分类子像素的缺陷性质以及不均匀性的问题;

　　e) 所观察的缺陷应在视觉检测报告中记录。

　　7.1.2 光电缺陷的检查判据

　　按照表1的判据对显示屏质量是否合格进行检查。

　　表1 光电缺陷的检查判据

　　7.2 外观缺陷

　　7.2.1 外观缺陷的检测方法

　　使用显示区域上平均照度700 lx±100 lx的侧光，侧光是检测外观缺陷的较好条件，见图4，从目视检查者到显示屏对向的70°角度范围内，显示屏的周围区域应由吸光漫射材料构成，以控制环境光散射至目视检查者的视野内。外观缺陷的检测应在观看方向的宽范围上进行(见图3)。应注意阻挡检测者直接观看光源。

　　外观缺陷检测一般在熄屏状态下进行，也可选用检测图案辅助观察，如：全屏白色测试图案(100%灰度等级)，用于识别遮盖部分显示区域的外观缺陷。通过使用点线规和/或卡尺，可判定缺陷的具体尺寸。

　　检测者应在视觉检测报告中记录外观缺陷的观察和分类。

　　可以被清除的异物，如指纹、颗粒等不视为缺陷，位于有效显示区域以外的划痕和凹痕不被视为缺陷。

　　标引序号说明：

　　1——目视检查者眼睛;

　　2——边界光;

　　3——显示屏;

　　4——挡屏;

　　5——周围吸光。

　　图4 目视检查的安装条件

　　7.2.2 外观缺陷检查判据

　　按照表2的判据对显示屏质量是否合格进行检查。

　　表2 外观缺陷的检查判据

　　表2 (续)

　　表2 (续)

　　参 考 文 献

　　[1] GB/T 18910.203—2021 液晶显示器件 第20-3部分： 目检 有源矩阵彩色液晶显示模块

　　[2] SJ/T 11461.6.2—2016 有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法-视觉质量

　　[3] T/CVIA 116—2023 Micro LED显示屏通用技术规范 中大尺寸显示屏