欢迎访问学兔兔标准下载网，学习、交流 分享 ！

返回首页 |
当前位置: 首页 > 团体标准>综合团体标准 > T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法

T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法

收藏
  • 大小：738.84 KB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：综合团体标准
  • 更新日期：2022-09-19
本站推荐： 升级会员 无限下载,节约时间成本！
资源简介
本本件规定了用化学择优腐蚀结合图像识别法检测碳化硅晶片中位错密度的方法。
本文件适用于4H及6H-SiC晶片材料中Si面位错检测及其密度统计，材料表面为化学机械抛光状态。
下载地址
点击进入下载地址列表
T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法资源截图
上一篇: T/CASAS 011.3-2021 车规级智能功率模块（IPM）测试认证规范
下一篇: T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法
立即下载

推荐信息

T/GIA 003-2020 县市(地)级城市生态环境保护规划编制指南
T/TAF 077.17-2021 APP收集使用个人信息最小必要评估规范 身份信息
T/CHEAA 0014-2020 电动冲牙器
T/CFLP 0027-2020 国有企业采购管理规范
T/CNITA 09102-2018 卫生棉条
T/CAQI 169-2021 无人船船载水质监测系统
T/CSAE 162-2020 乘用车悬架系统台架试验性能要求及方法
T/CAQI 76-2019 石英质玉（金丝玉） 鉴定与分类
T/ZZB 2081-2021 蓄电池平衡重式叉车
T/ZZB 0263-2017 风力发电用高强度螺栓、螺母和垫圈