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DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选方法

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  • 大小：586.11 KB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：综合地方标准
  • 更新日期：2023-06-09
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关键词：射频   器件   功率   筛选   高温   反偏试验   缺陷
资源简介
本文件规定了基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选的筛选原理、筛选条件、筛选系统构成和要求、筛选方法和判据。
本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选，GaN HEMT射频功率模块可参照使用。
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