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T/CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

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语言：中文版
格式： PDF文档
类别：核工业标准
更新日期：2024-07-11

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关键词：辐射存储器宇航剂量中国核学会

资源简介

本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory,SRAM）总剂量(totalionizing dose,TID)效应试验方法。
本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。

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