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T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

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  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：核工业标准
  • 更新日期：2024-07-11
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资源简介
本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
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