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SJ/T 10803-1996 半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理
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SJ/T 10808-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用)
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SJ/T 10811-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与非门(可供认证用)
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SJ/T 10813-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门(可供认证用)
SJ/T 10814-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1027型TTL三3输入与非门(可供认证用)
SJ/T 10815-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门(可供认证用)
SJ/T 10816-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器(可供认证用)
SJ/T 10817-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2－2－2－2输入与或非门(可供认证用)
SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10819-1996 电子元器件详细规范 35SX5B型黑白显象管(可供认证用)
SJ/T 10854-1996 电子元器件详细规范 CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)
SJ/Z 1082-1976 镀镍溶液典型分析方法
SJ/Z 1083-1976 镀铬溶液典型分析方法
SJ/Z 1084-1976 镀铜溶液典型分析方法
SJ/Z 1085-1976 镀锌溶液典型分析方法
SJ/Z 1086-1976 镀镉溶液典型分析方法
SJ/Z 1087-1976 镀锡溶液典型分析方法
SJ/Z 1088-1976 氧化镀银溶液典型分析方法
SJ/Z 1089-1976 镀金溶液典型分析方法
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