基于阿伦尼斯模型的Flash存储器数据保持能力研究

随着型号工程对电气系统长期贮存能力要求的不断提高,电气系统中程序或数据存储器对数据的保持能力变得尤为重要。本文基于阿伦尼斯模型(Arrhenius),选取0.13μm NOR型及65nm NOR型Flash存储器代表品种,开展了定时结尾数据保持试验。试验结果表明,基于上述工艺的Flash存储器的数据保持能力可满足贮存30年的需求,该结果为型号研制提供了有效依据。