基于失效物理的电子产品寿命预计方法及工程应用

总结了电子产品在力、热、电单一应力作用下的失效机理模型,结合电子产品在典型工况条件下的仿真技术,利用多应力综合作用的累积损伤模型,量化了电子产品的寿命指标,形成了通用电子单机产品的寿命预计流程。同时,选取某计算处理电路板为典型对象开展工程应用,验证了寿命预计方法和流程的有效性。

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本文档关键词:物理,预计,电子产品,工程应用