基于M-Sift特征的元器件目标检测及其在点胶机中的应用
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针对工业生产线上自动点胶机、产品质量检测或自动焊接等任务的需求,提出一种基于改进的Sift(M-Sift)特征的目标检测算法。所提算法以图像块为基本匹配单位代替Sift特征的关键点检测,图像块的特征提取采用M-Sift特征,既提高了计算效率又保持了Sift特征的优势。对大量、多种类的目标检测和定位实验表明,提出的基于M-Sift特征的目标检测与定位算法达到了很高的性能,优于传统基于模型的目标定位和识别方法。
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本文档关键词:元器件,及其,特征,中的,目标