硅基CCD不均匀性测试
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本文从理论上分析了硅基CCD(电荷耦合器件)不均匀性的原因,并给出了一种硅基CCD不均匀性的测试方法,实验验证该方法可行。实验中的硅基CCD光电响应偏差率在±1%以内。
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本文档关键词:不均匀,硅基,CCD,性测试