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基于XRD光谱法的光参量振荡铌酸锂晶体SiO2薄膜损伤研究

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  • 类别：仪器仪表
关键词：参量   振荡   薄膜   光谱   损伤

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基于XRD光谱法的光参量振荡铌酸锂晶体SiO2薄膜损伤研究
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