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T/CPIA 0100-2024 光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法

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资源简介

《光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法》标准总结

标准概述

T/CPIA 01002024《光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法》是由中国光伏行业协会发布的团体标准,规定了使用四探针法测试晶体硅光伏样品掺杂层方块电阻的方法。该标准将于2024年12月30日正式实施。

主要内容详解

1. 适用范围

本文件适用于光伏电池掺杂层方块电阻的测试,特别是晶体硅光伏样品。

2. 术语定义

  • ​四探针测试法​​:通过在被测样品(掺杂层)上施加电流和探测电压,利用四个探针来准确测量样品电阻值的测试方法。

3. 测量原理

标准详细描述了四探针法测量方块电阻的原理:

 

 

计算公式为:
R_{s q}=V/ I\times F(\bar{S}/ D)\times F(W/\bar{S})\times F_{s p}\times F_t

其中包含多个修正系数:

  • 样品直径修正系数F(?̅/D)
  • 厚度修正系数F(W/?̅)
  • 探针间距修正系数Fsp
  • 温度修正系数Ft

4. 测试要求

​试验条件​​:

  • 温度:25℃±5℃
  • 相对湿度:60%±20%
  • 无强光、高频干扰
  • 环境清洁

5. 样品制备与测试方法

  • 保持样品表面干净
  • 测试点位标定:
    • ​方形片​​:5个点(中心点+边缘4个点,距离边缘2cm)
    • ​矩形片​​:5个点(对角线中心点+角部4个点,距离边缘2cm)

6. 仪器设备

四探针测试仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等组成,测量数据可由主机直接显示。

7. 测试步骤

  1. 对测试机台进行校准
  2. 将样品放置在绝缘台面上测试,录入厚度及直径数据
  3. 每片测试5点,设备自动计算方块电阻值
  4. 计算片内均匀性:

W_t=\frac{R_{s q\max}-R_{s q\min}}{2\bar{R}_{s q}}\times 100\%

8. 报告内容

报告必须包含:

  • 样品规格型号、编号
  • 测试仪器名称和型号
  • 检测结果(方块电阻Rsq)
  • 样品来源和取样过程
  • 本文件编号
  • 测量单位信息
  • 测试日期

规范性引用文件

标准引用了以下文件:

  • GB/T 14264《半导体材料术语》
  • JJG 508-2004《四探针电阻率测试仪》
  • JJF 1760-2019《硅单晶电阻率标准样片校准规范》

起草信息

标准由中国光伏行业协会标准化技术委员会归口,由晶澳太阳能、中国电子技术标准化研究院等多家光伏企业共同起草,主要起草人包括许志卫、刘晓娜等13位专家。

注意事项

标准特别指出文件中可能涉及专利内容,但发布机构不承担识别专利的责任。

下载地址
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