欢迎访问学兔兔标准下载网，学习、交流 分享 ！

返回首页 |
当前位置: 首页 > 团体标准>综合团体标准 > T/CSTM 01199-2024 多层金属薄膜层结构测量分析方法 X射线光电子能谱

T/CSTM 01199-2024 多层金属薄膜层结构测量分析方法 X射线光电子能谱

收藏
  • 大小：531.44 KB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：综合团体标准
  • 更新日期：2024-03-21
本站推荐： 升级会员 无限下载,节约时间成本！
资源简介
本文件规定了X射线光电子能谱仪（XPS）深度剖析测量多层金属薄膜层结构的分析方法。
本文件适用于70 nm~240 nm深度内纳米尺度多层金属薄膜层成分、化学态、膜厚的表征。
下载地址
点击进入下载地址列表
T/CSTM 01199-2024 多层金属薄膜层结构测量分析方法 X射线光电子能谱资源截图
上一篇: T∕CSTM 01194-2024 聚对苯二甲酸乙醇酯 聚对苯二甲酸乙醇酯 聚对苯二甲酸乙醇酯 表面氢元素含量测量方法反射电子能量损失谱
下一篇: T/CSTM 01203-2023 T/CCPMA 001-2023（IDT） 增材制造用AlSi10Mg铝合金粉末
立即下载

推荐信息

T/GIA 003-2020 县市(地)级城市生态环境保护规划编制指南
T/TAF 077.17-2021 APP收集使用个人信息最小必要评估规范 身份信息
T/CHEAA 0014-2020 电动冲牙器
T/CFLP 0027-2020 国有企业采购管理规范
T/CNITA 09102-2018 卫生棉条
T/CAQI 169-2021 无人船船载水质监测系统
T/CSAE 162-2020 乘用车悬架系统台架试验性能要求及方法
T/CAQI 76-2019 石英质玉（金丝玉） 鉴定与分类
T/ZZB 2081-2021 蓄电池平衡重式叉车
T/ZZB 0263-2017 风力发电用高强度螺栓、螺母和垫圈