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SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

大小：1.21 MB
语言：中文版
格式： PDF文档
类别：电子信息
更新日期：2023-10-24

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资源简介

本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备(以下简称“分立器件测试设备”)的术语和定义、技术要求、测量方法。
本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01 V～~5 000 V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A，脉冲陶泊输出和脉冲电流刺童围不超过10A～1200A的分立器件测试设备。

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