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GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

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  • 大小：2.37 MB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：电子信息
  • 更新日期：2023-10-18
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关键词：验方   元器件   位移   损伤   GB
资源简介
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。
本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器,图像敏感器(APS)、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
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