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T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法

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  • 大小：2.75 MB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：电子信息
  • 更新日期：2023-03-02
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关键词：存储   磁   芯片   CIE   中国电子学会
资源简介
本标准给出了磁随机存储(Magnetic Random-Access Memory;MRAM)芯片测试方法的术语、测试原理﹑测试环境﹑测试设备、测试程序等。
本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能(可靠性和电学参数等)验证。
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