欢迎访问学兔兔标准下载网，学习、交流 分享 ！

返回首页 |
当前位置: 首页 > 行业标准>电子信息 > SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法

SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法

收藏
  • 大小：5.54 MB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：电子信息
  • 更新日期：2022-09-19
本站推荐： 升级会员 无限下载,节约时间成本！
关键词：验方   组件   器件   低温   筛选
资源简介
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法
下载地址
点击进入下载地址列表
SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法资源截图
上一篇: SJ 21346-2018 低温低损耗传输线绝热组件测试方法
下一篇: SJ 21348-2018 超导器件环境试验方法
立即下载

推荐信息

SJ/T 9550.4-1993 镉镍方形密封碱性蓄电池质量分等标准
GB/T 26236.1-2010 信息技术 软件资产管理 第1部分：过程
GB/T 20205-2006 重离子微孔防伪标识.rar
SJ 1980-1981 N沟道结型场效应半导体管 CS7型高频场效应半导体管.rar
SJ 3002.2-1988 组合冲模 冲槽刃口
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
GB/T 29265.405-2012 信息技术 信息设备资源共享协同服务 第405部分：媒体中心设备
GB/T 15694.2-2002 识别卡 发卡者标识 第2部分：申请和注册规程
SJ 21294-2018 埋入元件印制板性能规范
GB/T 12798-2012 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁心