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> GB/T 21021.3-2021 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第3部分:同轴连接器的无源互调测量
GB/T 21021.3-2021 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第3部分:同轴连接器的无源互调测量
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2.57 MB
语言:
中文版
格式:
PDF文档
类别:
电子信息
更新日期:
2021-12-17
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关键词:
射频
元器件
微波
测量
无源
资源简介
GB∕T 21021.3-2021 无源射频和微波元器件的互调电平测量 第3部分:同轴连接器的无源互调测量
本部分描述了同轴连接器经受冲击试验时的无源互调(PIM)试验方法。该试验用来评估同轴连接器的坚固性,防止连接器内部出现不牢固的连接和微粒,尽可能独立于无源互调(PIM)的影响。
对于其它连接器(例如面板安装连接器),电缆可被合适的传输线所替代(如空气线、带状线)。为了评估机械应力对连接器的影响,测量PIM时需要对连接器施加一系列的冲击力。
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