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SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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  • 大小：1.43 MB
  • 语言：中文版
  • 格式： PDF文档
  • 类别：电子信息
  • 更新日期：2021-12-17
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关键词：低频   耦合   器件   参数   噪声
资源简介
SJ∕T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
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