GB∕T 40291-2021 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
本文件描述了测量高纯锗晶体基本特征的术语和试验方法。包括电活性杂质净浓度(NA-ND)、深能级杂质中心浓度和晶体学特性。本文件适用于γ射线和X射线辐射探测器用高纯锗晶体。此锗单晶的电活性杂质中心的净浓度小于1011 cm-3,通常是1010 cm-3量级。本文件中所列测试方法并非法定方法,但在工业中得到了广泛的应用,并为探测器制造商提供了可验证的信息,满足了制造商的需求。在GB/T 7167-2008和GB/T 11685-2003中给出了完整的组装锗探测器的试验方法。
标准号:GB/T 40291-2021
标准名称:核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
英文名称:Nuclear instrumentation—High-purity germanium crystals for radiation detectors—Measurement methods of basic characteristics
引用标准:GB/T 2900.66-2004 GB/T 2900.97-2016
采用标准:IEC 61435:2013
采标名称:《核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法》
采标程度:IDT 等同采用
起草人:张积运、杜晓立、唐晓川、李名兆、管少斌、周宗杰、张长兴、梁永顺、刘金尧、刘姗姗
起草单位:核工业航测遥感中心、深圳市计量质量检测研究院
归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)