现代光学测试技术
作者：苏俊宏，田爱玲，杨利红 编著
出版时间：2013年版
内容简介
现代光学测试技术研究领域包括光干涉技术、光衍射技术、光偏振技术、光全息技术、光扫描技术、光散斑技术、莫尔技术、光谱技术、光纤技术，等等。本书涉及内容除基本光学测量技术外，主要以光干涉测试技术为主，介绍了各种光学量的测试原理及测试方法。《现代光学测试技术》共11章。第一、二章系统地介绍了现代光学测试技术的基本理论及其发展；第三章介绍了光学材料及其基本参数的测试问题；第四章系统介绍了几种常用的典型干涉仪；第五章是光电相位探测技术；第六、七章分别介绍了平面元件与球面元件测试技术．；第八章介绍了非球面测试技术的基本知识及测试方法；第九章介绍了干涉测长技术；第十章介绍了莫尔条纹测量技术；第十一章介绍了光学系统成像质量评价方法。《现代光学测试技术》具有理论与实践密切结合、论述系统深入的特点，可作为相关专业的研究生教材，也可供相关工程技术人员作为设计光学测试系统的参考资料。
目录
前言
第一章 现代光学测试技术综述
第一节 研究领域及技术特征
第二节 现代光学测试技术的现状与应用
第三节 光学测试方法的选取原则
第四节 现代光学测试技术的发展趋势
参考文献
第二章 光具座上的综合检测
第一节 测量中的对准技术与调焦技术
第二节 光学测试装置的基本部件及其组合
第三节 焦距和顶焦距的测量
参考文献
第三章 光学材料测试
第一节 光学玻璃材料概述
第二节 光学玻璃折射率测量
第三节 光学玻璃光学均匀性测量
第四节 光学玻璃应力双折射测量
参考文献
第四章 基本的光干涉测量技术
第一节 干涉条纹的分析判读及波面质量评价
第二节 几种典型的干涉仪
第三节 波面错位干涉测量
第四节 干涉图分析与波面拟合
第五节 波像差及其测量
参考文献
第五章 光电相位测量技术
第一节 相位的静态测试技术
第二节 相位的动态测试技术
参考文献
第六章 平面元件测试技术
第一节 平面元件基本量测量
第二节 平面光学元件面形偏差检测
第三节 平面光学元件光学平行度测量
参考文献
第七章 球面元件测试技术
第一节 球面曲率半径测量
第二节 球面光学元件面形偏差检测
参考文献
第八章 非球面测试技术
第一节 非球面的基本知识
第二节 非球面面形测试方法
参考文献
第九章 干涉测长技术
第一节 高精度量块测量技术
第二节 激光干涉测长
参考文献
第十章 莫尔条纹技术
第一节 莫尔条纹形成原理
第二节 莫尔条纹测量技术
参考文献
第十一章 光学系统评价
第一节 光学系统成像质量评价方法概述
第二节 分辨率测试
第三节 成像质量评价的星点检验法
第四节 光学传递函数
第五节 干涉测量
参考文献
