数字电路测试技术
作者: 李志勇,李小颖主编;刘佳宇,袁秀湘副主编;蔡灏,刘建新,王晖,李平,谌海霞,金维香编写
出版时间:2019年版
丛编项: "十三五"普通高等教育规划教材
内容简介
《“十三五”普通高等教育规划教材数字电路测试技术》本书为“十三五”普通高等教育规划教材,与《模拟电路测试技术》(ISBN9787519826802)配套使用。 本书以实验为主线,共分为2部分17个实验项目,以适应不同专业、不同层次学生的实验教学要求。主要内容安排如下:第1部分为数字电路测试实验基础知识,内容包括集成电路外引线识别、数字电路中逻辑信号的高低电平、数字电路常用逻辑符号及集成电路命名法;第2部分为数字电路测试技术实验,内容包括TTL集成逻辑门功能与参数测试、组合逻辑设计、时基电路波形产生与整形、智力竞赛抢答装置等。
目录
第1部分 数字电路测试实验基础知识
1.1 集成电路外引线识别
1.2 数字电路中逻辑信号的高低电平范围
1.3 数字电路常用逻辑符号及集成电路命名法
第2部分 数字电路测试技术实验
实验1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验2 组合逻辑电路(一)
实验3 组合逻辑电路(二)
实验4 触发器及其应用
实验5 触发器构成的异步计数器及其应用
实验6 中规模集成计数器的应用
实验7 移位寄存器及其应用
实验8 时基电路的波形产生与整形
实验9 脉冲分配器及其应用
实验10 使用门电路产生脉冲信号
实验11 555定时器的应用
实验12 声光控延时灯设计
实验13 智力竞赛抢答装置改进
实验14 电子秒表调试
实验15 人体反应速度测试器设计
实验16 用555定时器组成函数发生器
实验17 汽车尾灯控制电路设计