高速数字接口原理与测试指南

高速数字接口原理与测试指南
作者：李凯 编著
出版时间：2014年版
内容简介
　　《高速数字接口原理与测试指南》结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验，对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解，同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里最新的高速数字接口，对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结，以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分： 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理； 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术，也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。
目录
上部 高速数字信号测量原理
第1章 无处不在的数字接口
第2章 数字信号基础
2.1 什么是数字信号(Digital Signal)
2.2 数字信号的上升时间(Rising Time)
2.3 数字信号的带宽(Bandwidth)
2.4 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)
2.5 并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)
2.6 单端信号与差分信号(Single-ended and Differential Signals)
2.7 数字信号的时钟分配(Clock Distribution)
2.8 串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)
2.9 伪随机码型(PRBS)
2.10 传输线对数字信号的影响(Transmission Line Effects)
2.11 数字信号的预加重(Pre-emphasis)
2.12 数字信号的均衡(Equalization)
2.13 数字信号的抖动(Jitter)
2.14 扩频时钟(SSC)
第3章 数字测试基础
3.1 数字信号的波形分析(Waveform Analysis)
3.2 数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)
3.3 眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)
3.4 眼图的模板测试(Mask Test)
3.5 数字信号抖动的成因(Root Cause of Jitter)
3.6 数字信号的抖动分解(Jitter Seperation)
3.7 串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)
3.8 示波器的抖动测量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)
3.9 相位噪声测量(Phase Noise Measurement)
3.10 传输线的特征阻抗(Characteristic Impedance)
3.11 特征阻抗的TDR测试(Time Domain Reflectometer)
3.12 传输线的建模分析(Transmission Line Modelling)
第4章 实时示波器原理
4.1 模拟示波器(Analog Oscilloscope)
4.2 数字存储示波器(Digital Storage Oscilloscope)
4.3 示波器的带宽(Bandwidth)
4.4 示波器的频响方式(Frequency Response)
4.5 示波器带宽对测量的影响(Bandwidth Impact)
4.6 示波器的带宽增强技术(Bandwidth Enhancement Technology)
4.7 示波器的频带交织技术(Bandwidth Interleaving Technology)
4.8 示波器的采样技术(Sampling Technology)
4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)
4.10 示波器的直流电压测量精度(DC Voltage Accuracy)
4.11 示波器的时间测量精度(Delta-Time Accuracy)
4.12 示波器的等效位数(ENOB)
4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)
4.14 示波器的内存深度(Memory Depth)
4.15 示波器的死区时间(Dead Time)
4.16 示波器的显示模式(Display Mode)
4.17 示波器的触发(Trigger)
4.18 示波器的触发条件(Trigger Conditions)
4.19 示波器的触发模式(Trigger Mode)
4.20 示波器的测量速度(Measurement update rate)
附录 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理
第5章 示波器探头原理
5.1 高阻无源探头(High Impedance Passive Probe)
5.2 无源探头的常用附件(Passive Probe Accessories)
5.3 低阻无源探头(Low Impedance Passive Probe)
5.4 有源探头(Active Probe)
5.5 差分探头(Differential Probe)
5.6 电流探头(Current Probe)
5.7 高灵敏度探头(High-sensitivity Probe)
5.8 探头连接前端对测量的影响(Probe Head)
5.9 探头衰减比对测量的影响(Probe Attenuation Ratio)
5.10 探头的校准方法(Probe Calibration)
第6章其他常用数字测量仪器6.1采样示波器(Sampling Oscilloscope)6.2矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)6.3逻辑分析仪(Logic Analyzer)6.4协议分析仪(Protocol Analyzer)6.5误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)附录1Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介附录2示波器协议解码功能和协议分析仪的区别第7章常用测量技巧7.1电源纹波噪声测试方法7.2时间间隔测量7.3如何用示波器进行ps级时间精度的测量7.4怎样测量PLL电路的锁定时间7.5T型头和功分器的区别7.6如何克服测试电缆对高频测量的影响第8章用多台仪器搭建自动测试系统8.1自动化测试系统8.2LXI测试系统的硬件平台8.3LXI测试系统的软件架构8.4LXI测试系统的优点8.5LXI测试系统的兼容性问题8.6LXI测试系统的时钟同步8.7LXI测试系统的网络安全性下部高速数字接口及测试方法第9章PCIE简介及信号和协议测试方法
9.1PCIE总线简介9.2PCIE 协会简介9.3PCIE信号质量测试9.4PCIE协议调试和测试9.5PCIE测试总结和常见问题第10章PCIE 3.0简介及信号和协议测试方法第11章SATA简介及信号和协议测试方法
第12章Ethernet简介及信号测试方法
第13章MIPI DPHY简介及信号和协议测试方法
第14章MIPI MPHY简介及信号和协议测试方法
第15章存储器简介及信号和协议测试
第16章USB 2.0简介及信号和协议测试
第17章USB 3.0简介及信号和协议测试
第18章HDMI 简介及信号和协议测试
第19章MHL简介及信号和协议测试
第20章DisplayPort简介及信号测试
第21章LVDS传输系统简介及测试
第22章MILSTD1553B简介及测试