欢迎访问学兔兔,学习、交流 分享 !

返回首页 |

半导体器件与电路的可靠性及退化

收藏
  • 大小:17613 KB
  • 语言:中文版
  • 格式: PDF版
  • 阅读软件: Adobe Reader
资源简介
半导体器件及电路的可靠性与退化
作者:(英)M.J.豪斯(M.J.Howes),(英)D.V.摩根(D.V.Morgan)主编;李锦林等译

ISBN:7030011643/9787030011640
出版时间:1989
下载地址