光电子器件微波封装和测试 半导体科学与技术丛书
光电子器件微波封装和测试
作者：祝宁华
出版时间：2007-7
丛编项：半导体科学与技术丛书
《光电子器件微波封装和测试》总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，先进性、学术性和实用性兼备。《光电子器件微波封装和测试》共十一章，内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术的总结。《光电子器件微波封装和测试》适合从事光电子器件教学与研究的科技工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考
