书名:电子元器件失效分析与典型案例
作者:孔学东、恩云飞
出版日期:2006-01-01
简介:
本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。
目录:
第一篇基础篇
第一章电子元器件失效分析概论
1．1失效分析的目的和意义
1．2失效分析的基本内容
1．3失效分析要求
1．4主要失效模式及其分布
1．5主要失效机理及其定义
第二章失效分析程序
2．1失效环境调查
2．2失效样品保护
2．3失效分析方案设计
2．4外观检查
2．5电测
2．6应力试验分析
2．7故障模拟分析
2．8内部分析
2．9纠正措施
2．10结果验证
第三章失效分析技术
3．1以失效分析为目的的电测技术
3．2无损失效分析技术
3．3样品制备技术
3．4显微形貌像技术
3．5以测量电压效应为基础的失效分析定位技术
3．6以测量电流效应为基础的失效分析定位技术
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