材料分析方法 第三版
出版时间：2011年版
内容简介
周玉等的《材料分析方法（第3版）》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。《材料分析方法（第3版）》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
目录
第3版前言
第2版前言
第1版前言
绪论1
第一篇 材料X射线衍射分析3
第一章 X射线物理学基础5
第一节 X射线的性质5
第二节 X射线的产生及X射线谱6
第三节 X射线与物质的相互作用9
习题15
第二章 X射线衍射方向17
第一节 晶体几何学简介17
第二节 布拉格方程22
第三节 X射线衍射方法28
习题29
第三章 X射线衍射强度31
第一节 多晶体衍射图相的形成31
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数32
第三节 洛伦兹因数35
第四节 影响衍射强度的其他因数36
第五节 多晶体衍射的积分强度公式38
习题38
第四章 多晶体分析方法40
第一节 德拜谢乐法40
第二节 其他照相法简介45
第三节 X射线衍射仪47
习题54
第五章 物相分析及点阵参数精确测定55
第一节 定性分析55
第二节 定量分析59
第三节 点阵参数的精确测定62
第四节 非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析66
习题70
第六章 宏观残余应力的测定71
第一节 物体内应力的产生与分类71
第二节 X射线宏观应力测定的基本原理72
第三节 宏观应力测定方法75
第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题80
习题84
第七章 多晶体织构的测定85
第一节 极射赤面投影法85
第二节 织构的种类和表示方法89
第三节 丝织构指数的测定95
第四节 极图的测定96
第五节 反极图的测定100
习题102
第二篇 材料电子显微分析103
第八章 电子光学基础105
第一节 电子波与电磁透镜105
第二节 电磁透镜的像差与分辨率108
第三节 电磁透镜的景深和焦长111
习题112
第九章 透射电子显微镜113
第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理113
第二节 主要部件的结构与工作原理117
第三节 透射电子显微镜分辨率和放大倍数的测定119
习题121
第十章 电子衍射122
第一节 概述122
第二节 电子衍射原理123
第三节 电子显微镜中的电子衍射131
第四节 单晶体电子衍射花样标定135
第五节 复杂电子衍射花样137
习题140
第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析141
第一节 概述141
第二节 薄膜样品的制备方法141
第三节 衍射衬度成像原理144
第四节 消光距离146
第五节 衍衬运动学147
第六节 衍衬动力学简介154
第七节 晶体缺陷分析157
习题165
第十二章 高分辨透射电子显微术166
第一节 高分辨透射电子显微镜的结构特征166
第二节 高分辨电子显微像的原理167
第三节 高分辨透射电子显微镜在材料科学中的应用176
习题183
第十三章 扫描电子显微镜184
第一节 电子束与固体样品作用时产生的信号184
第二节 扫描电子显微镜的构造和工作原理186
第三节 扫描电子显微镜的主要性能189
第四节 表面形貌衬度原理及其应用190
第五节 原子序数衬度原理及其应用195
习题198
第十四章 电子背散射衍射分析
技术199
第一节 概述199
第二节 电子背散射衍射技术相关晶体学取向基础199
第三节 电子背散射衍射技术硬件系统209
第四节 电子背散射衍射技术原理及花样标定211
第五节 电子背散射衍射技术成像及分析215
第六节 电子背散射衍射技术数据处理220
习题224
第十五章 电子探针显微分析225
第一节 电子探针仪的结构与工作原理225
第二节 电子探针仪的分析方法及应用229
习题231
第十六章 其他显微结构分析方法232
第一节 离子探针显微分析232
第二节 低能电子衍射分析234
第三节 俄歇电子能谱分析238
第四节 场离子显微镜与原子探针243
第五节 扫描隧道显微镜与原子力
显微镜248
第六节 X射线光电子能谱分析254
第七节 红外光谱257
第八节 激光拉曼光谱264
第九节 紫外可见吸收光谱268
第十节 原子发射光谱272
第十一节 原子吸收光谱276
第十二节 核磁共振279
第十三节 电子能量损失谱285
第十四节 扫描透射电子显微镜288
习题289
实验指导291
实验一 单相立方系物质X射线粉末相计算291
实验二 用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析292
实验三 宏观残余应力的测定296
实验四 金属板织构的测定300
实验五 透射电子显微镜结构原理及明暗场成像303
实验六 选区电子衍射与晶体取向分析306
实验七 扫描电子显微镜的结构原理及图像衬度观察311
实验八 电子背散射衍射技术的工作原理与菊池花样观察及标定315
实验九 电子背散射衍射技术的数据处理及其分析应用318
实验十 电子探针结构原理及分析方法321
附录324
附录A 物理常数324
附录B 质量吸收系数μl/ρ324
附录C 原子散射因数f325
附录D 各种点阵的结构因数F2HKL326
附录E 粉末法的多重性因数Phkl326
附录F 角因数1+cos22θsin2θcosθ327
附录G 德拜函数(x)x+14之值329
附录H 某些物质的特征温度Θ329
附录I 12cos2θsinθ+cos2θθ的数值330
附录J 应力测定常数332
附录K 立方系晶面间夹角333
附录L 常见晶体标准电子衍射花样336
附录M 立方与六方晶体可能出现的反射340
附录N 特征X射线的波长和能量表341
参考文献343
