材料现代测试分析方法
出版时间：2014年
内容简介
《材料现代测试分析方法》包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，本书还简要介绍了低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、场离子显微镜与原子探针、扫描隧道与原子力显微镜以及X射线光电子能谱仪等显微分析方法。书中的实例分析引入了材料组织结构研究方面的新成果。书中还附有练习题部分，通过对题目的解答，加深读者对相关概念、原理的理解与掌握。
本书可以作为材料科学与工程专业的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料类其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
目录
第一篇 X射线衍射分析
第1章 晶体学基础
1.1 晶体与非晶体
1.2 空间点阵和晶胞
1.3 七大晶系与14种布拉菲点阵
1.4 点群与空间群
1.5 晶向指数和晶面指数
1.5.1 晶向指数
1.5.2 晶面指数
1.5.3 金属晶体中3种典型的晶体
结构
1.6 晶带、晶面间距和晶面夹角
1.6.1 晶带
1.6.2 晶面间距
1.6.3 晶面夹角
习题
第2章 X射线的性质及X射线的产生
2.1 X射线的性质
2.2 X射线的产生
2.2.1 X射线管
2.2.2 X射线管工作条件的确定
2.3 X射线光谱
2.3.1 连续光谱
2.3.2 特征光谱
习题
第3章 X射线与物质的相互作用
3.1 X射线的散射效应
3.1.1 相干散射
3.1.2 非相干散射
3.1.3 散射系数
3.2 X射线的吸收
3.2.1 光电效应
3.2.2 X射线的衰减规律与吸收
系数
3.2.3 实验波长的选择
3.2.4 X射线的单色化
习题
第4章 X射线衍射基本理论
4.1 X射线衍射几何条件
4.1.1 劳埃方程
4.1.2 布拉格方程
4.2 衍射强度
4.2.1 一个电子对X射线的衍射
4.2.2 一个原子对X射线的散射
4.2.3 一个晶胞对X射线的散射
4.2.4 理想小晶体的衍射强度
4.2.5 实际小晶粒的衍射强度
4.2.6 影响多晶体衍射的其他因子
4.2.7 多晶体的衍射线强度
习题
第5章 X射线的检测
5.1 X射线的检测
5.1.1 荧光板
5.1.2 照相方法
5.1.3 正比计数管
5.1.4 NaI(Tl)闪烁计数管
5.1.5 固体检测器
5.1.6 位敏正比计数管
5.1.7 成像屏
5.1.8 X射线电视
5.2 X射线衍射分析方法
5.2.1 多晶体和粉末材料衍射
方法
5.2.2 单晶X射线衍射分析研究
习题
第6章 多晶自动X射线衍射仪
及其实验技术
6.1 多晶X射线衍射仪
6.1.1 X射线发生器
6.1.2 测角仪的光路系统
6.1.3 X射线强度测量记录系统
6.1.4 衍射仪控制及衍射数据采集
分析系统
6.2 多晶X射线衍射仪实验技术
6.2.1 具体实验条件的选定
6.2.2 样品的制备
6.2.3 原始数据的初步处理
6.2.4 衍射强度的测量
习题
第7章 粉末衍射方法的应用
7.1 物相分析
7.1.1 物相定性鉴定
7.1.2 物相定量分析
7.2 晶胞参数的精确测定及其应用
7.2.1 晶胞参数的精确测定
7.2.2 精确晶胞参数数据的应用
7.3 衍射线强度分布数据的应用
习题
第二篇 电子显微分析
第8章 电磁透镜
8.1 光学显微镜的分辨率极限
8.2 电子波的波长
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