本文件规定了宇航用抗辐射加固集成电路单元库(以下简称“加固单元库”)的组成、辐射效应建模与仿真、加固单位库设计、设计套件的设计和验证、加固单元库的验证、加固单元库手册编制等要求。
本文件适用于体硅/SOI CMOS工艺的加固单元库设计，以及产品研制前对加固单元库的综合评价。
标准号：GB/T 43228-2023
标准名称：宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求
英文名称：Design requirements for space radiation-hardened integrated circuit standard cell library
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
出版语种：中文简体
标准分类号
标准ICS号：49.140
中标分类号：V25
关联标准
替代以下标准：无
被以下标准替代：无
引用标准：GB/T 9178-1988
起草人：赵元富、王亮、岳素格、周亮、孙永姝、李同德、林建京、赵曦、王慜、刘征宇
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
