本文件规定了数字模拟（DA）转换器（以下简称DA转换器或DAC）的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。
标准号：GB/T 42973-2023
标准名称：半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Digital-analog(DA) converter
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
引用标准：GB/T 4589.1-2006 GB/T 4937.3-2012 GB/T 4937.4-2012 GB/T 4937.11-2018 GB/T 4937.13-2018 GB/T 4937.14-2018 GB/T 4937.15-2018 GB/T 4937.21-2018 GB/T 4937.23 GB/T 4937.26 GB/T 4937.27 GB/T 9178 GB/T 12750 SJ/T 10147 SJ/T 11587 IEC 60749-8:2002 IEC 60749-9:2017 IEC 60749-24:2004 IEC 60749-28:2017 IEC 60749-36:2003
起草人：李锟、张驰、李大刚、王会影、张涛、雷郎成、刘显军、钟明琛、李文昌、李海龙、林玲、隋春娟
起草单位：中国电子技术标准化研究院、成都华微电子科技股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、四川翊晟芯科信息技术有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、中国科学院半导体研究所、三旗(惠州)电子科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
