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GB/T 42518-2023 正式版锗酸铋(BGO)晶体痕量元素化学分析辉光放电质谱法

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资源简介

本文件描述了采用辉光放电质谱法(GD-MS)测量锗酸铋(BGO)晶体中杂质元素的方法。
本文件适用于BGO晶体材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定,测定范围为0.001 ug/g~1 000 ug/g(质量分数)。通过合适的标准样品校正,也适用于测量质量分数大于1 000ug/g的杂质元素含量。

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