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GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语

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  • 大小:21.55 MB
  • 语言:中文版
  • 格式: PDF文档
  • 类别:标准规范
  • 更新日期:2022-01-19
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关键词:术语   电子   显微   分析   GB
资源简介
GB∕T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语,按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外,本文件的某些部分适用于相关领域(如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
标准号:GB/T 40300-2021
标准名称:微束分析 分析电子显微学 术语
英文名称:Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
采用标准:ISO 15932:2013
采标名称:《微束分析 分析电子显微学 术语》
采标程度:MOD 修改采用
起草人:柳得橹、汤斌兵、贺连龙
起草单位:北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
下载地址
GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语资源截图