GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）

GB∕T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。
注： 本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
标准号：GB/T 5095.2502-2021
标准名称：电子设备用机电元件　基本试验规程及测量方法　第25-2部分：试验25b：衰减(插入损耗)
英文名称：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-2:Test 25b:Attenuation (insertion loss)
采用标准：IEC 60512-25-2:2002
采标名称：《电子设备用连接器　试验和测量　第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)》
采标程度：IDT 等同采用
起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
归口单位：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC 166)