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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

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  • 语言：中文版
  • 格式： PDF版
  • 类别：标准规范
  • 更新日期：2010-11-20
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关键词：泊松比   弹性模量   陶瓷   器件
资源简介
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法.rar
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