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标准名称
更新日期
GB/T 7081-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2008型HTL双4输入与非门(可供认证用)
2010-12-13
GB/T 7082-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2009型HTL三3输入与非门
2010-12-13
GB/T 7083-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2010型HTL四2输入与非门(可供认证用)
2010-12-13
GB/T 7084-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2013型HTL六反相器(可供认证用)
2010-12-13
GB/T 7085-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ0450型双外围正与驱动器(可供认证用)
2010-12-13
GB/T 7086-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ0451型双外围正与驱动器(可供认证用)
2010-12-13
GB/T 7087-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ0452型双外围正与非驱动器(可供认证用).rar
2010-12-13
GB/T 7088-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ0453型双外围正或驱动器(可供认证用).rar
2010-12-13
GB/T 7090-1986 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7193CP色处理电路(可供认证用)
2010-12-13
GB 3431.1-1982 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
2010-11-27
GB 3439-1982 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
2010-11-27
GB 3440-1982 半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理
2010-11-27
GB 3441-1982 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理
2010-11-27
GB 3442-1986 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
2010-11-27
GB 3443-1982 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
2010-11-27
GB 3444-1982 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
2010-11-27
GB/T 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法
2010-11-27
GB/T 3431.2-1986 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
2010-11-27
GB/T 3432.1-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74系列的品种
2010-11-27
GB/T 3432.2-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H 系列的品种
2010-11-27
GB/T 3432.3-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74S 系列的品种
2010-11-27
GB/T 3432.4-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种
2010-11-27
GB/T 3433-1982 半导体集成电路HTL电路系列和品种
2010-11-27
GB/T 3434-1986 半导体集成电路ECL电路系列和品种
2010-11-27
GB/T 3435-1987 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
2010-11-27
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